日立發布全球獨創的熒光分布成像系統
發布日期:2019-11-18    來源:中國儀表網    

剛剛過去的BCEIA大會,日立發布了全球獨創的熒光分布成像系統(EEM View),今天就用它來測定萬圣節必不可少的南瓜貼紙。

 

EEM View是日立全球首次創新在熒光分光光度計中加入CMOS相機的系統,能夠同時獲得樣品的圖像和光譜信息,突出亮點是可以獲得樣品圖像任意區域的光譜性能。

 

南瓜貼紙光譜信息鑒賞:各式各樣的南瓜貼紙中含有大量熒光粉,眾所周知,這種貼紙暴露在黑暗中會發出熒光。

 

如圖所示便是這次鑒賞南瓜頭貼紙的熒光分布成像系統,從圖中可以清晰看到新附件的結構,CMOS相機位于積分球下方,樣品安放在積分球上方,入射光經過積分球漫反射獲得均勻光源,激發樣品產生熒光。

 

 

 

一般的熒光分光光度計測得的是樣品區域表面平均化后的信息,只能獲得一條熒光光譜,而日立熒光分布成像系統能夠同時獲取樣品不同位置的光譜信息,有利于探究樣品表面的光學性能分布。

 

日立高新技術以‘讓世界充滿活力’為宗旨,致力于新技術的融合與開發,這次推出的新品熒光分布成像系統將對油墨、材料、化工、涂料以及LED等領域帶來新的啟發,新的探索方法。



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